氦质谱检漏仪光刻机检漏
氦质谱检漏仪光刻机检漏
上海伯东客户日本某生产半导体用光刻机公司, 光刻机真空度需要达到 1x10-11 pa 的超高真空, 因为设备整体较大, 需要对构成光刻机的真空相关部件进行检漏且要求清洁无油, 满足无尘室使用要求, 为了方便进行快速检漏, 采购伯东 Pfeiffer 便携式氦质谱检漏仪 ASM 310.
光刻机检漏方法: 采用真空模式检漏, 漏率值设定为 1x10-11pa m3/s.
1. 通过波纹管与光刻机真空系统连接
2. 使用喷枪, 喷扫管路, 腔体焊缝, 接头等部位, 如果存在超过设定漏率值的狭缝, 检漏仪会时时发出声光报警, 同时在屏幕上显示漏率值.
氦质谱检漏仪光刻机检漏
便携式氦质谱检漏仪 ASM 310 主要技术参数:
对氦气的最小检测漏率
真空模式 5E-13 Pa m3/s ,吸枪模式 1E-8 Pa m3/s
检测模式
真空模式和吸枪模式
检漏方法>>
氦质谱检漏仪无油前级泵抽速
1.7 m3/h
检测气体
4He , 3He, H2
响应时间
<1s
对氦气的抽气速度
1.1 l/s
氦质谱检漏仪进气法兰
DN 25 ISO-KF
进气口最大压力
15 hPa
通讯接口
RS-232
工作温度
10-40 °C
噪音水平
< 45 dB (A)
尺寸
350 X 245 X 141 mm
重量
21 kg (46 lb)
 
若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:
上海伯东: 罗先生                               台湾伯东: 王女士
T: +86-21-5046-1322                   T: +886-3-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490                        F: +886-3-567-0049
M: +86 152-0195-1076                     M: +886-939-653-958
 
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